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易高涂层测厚仪采用的技术特点
  • 发布日期:2019-03-20      浏览次数:29
    •    到现今为止,市面上易高涂层测厚仪无损检测技术已成为加工工业为用户进行成品质量检测和保证产品达到优质标准的必备手段。测厚仪大致有以下三种:应用磁性测量法、涡流测量法以及超声波测量法的三类测厚仪。
       
        易高涂层测厚仪适用于各种板材和各种加工零件的精确测量,也可以对生产设备中各种管道和压力容器在使用过程中受腐蚀后的减薄程度进行监测。
       
        磁性测量原理测厚仪又可分为磁吸力原理测厚仪和磁感应原理测厚仪两种,涡流测量原理测厚仪则只有电涡流测厚仪一种。
       
        磁吸力原理测厚仪是利用磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系来测量覆层的厚度的,这个距离就是覆层的厚度,所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大,就可以进行测量。
       
        磁感应原理测厚仪是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的,覆层愈厚,磁通愈小。当软铁芯上绕着线圈的测头被放在被测物上后,仪器自动输出测试电流,磁通的大小影响到感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。
       
        易高涂层测厚仪是利用高频交流电在作为测头的线圈中产生一个电磁场,将探头靠近导电的金属体时,就在金属材料中形成涡流,这个涡流随着与金属体的距离减小而增大,并且会影响探头线圈的磁通,此反馈作用量就是表示探头与基体金属之间间距大小的一个量值。
       
        电涡流法测头用在非铁磁金属基体上测量覆层厚度,所以通常我们称该测头为非磁性测头。与磁性测量原理比较,它们的电原理基本一样,主要区别是测头不同,测试电流的频率大小不同,信号大小、标度关系不同。在近两年的测厚仪中,通过不断改进测头结构,再配合微电脑技术,由自动识别不同测头来调用不同的控制程序,分别输出不同的测试电流和改变标度变换软件,终于使两种不同类型的测头接在同一台测厚仪上,基于同一思想,可配接达10种测头的测厚仪也应运而生。
       
        易高涂层测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
       
        虽然几种测厚仪在校准中测量点和标准材料的选择上有很多不同,但在操作中都有一些相同的需要注意的地方,如每种测厚仪对基体的表面曲率和最小厚度都有一个下限的规定,在实际校准中应选择尺寸合理的基体进行操作;测量中测头的取向和压力也会对结果有影响,要保持测头与基体的垂直、压力恒定并尽可能小;另外,校准覆层测厚仪时还要注意外界磁场和基体剩磁的干扰,校准超声波测厚仪时要注意温度变化和耦合剂粘度的影响。
       
        易高涂层测厚仪主要是利用电磁场在不同厚度的介质上的磁场强度的改变,而计算出其厚度值。因此,任何对磁场强度的影响都会直接导致测量误差,具体情况有以下几种:
       
        1、被测材料自身含磁
       
        有些材料在加工过程中或一定工艺要求,使被测材料内有剩余磁场。由于其分布不均,所以导致的测量误差也不一致,会出现在同一工件上某些部位的测量值突然变大或变小。
       
        2、被测材料结构不同,形状不同
       
        在不同结构的工件上,磁场分布会随着结构、形状不同而不同,会产生测量误差。
       
        3、同一材料的不同部位,也可能产生磁场的变化,如材料的边缘与中间区域,其磁场分布不一样,会产生测量误差。
       
        4、被测材料的性质不同,其磁通量就会不同,这也是产生误差原因之一。
       
        5、材料的大小、厚度不同,也可以导致测量误差。
       
        6、易高涂层测厚仪被测材料表面不够光滑,也是产生误差的原因。
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